科瑞色谱荣获全国特气年会优秀论文奖，发布电子级四氯化硅痕量分析新方案

科瑞色谱荣获全国特气年会优秀论文奖，发布电子级四氯化硅痕量分析新方案

11月17日-11月19日，全国特种气体信息总站成立四十周年纪念大会暨第二十七次全国特种气体年会在武汉圆满落幕。本次大会云集了国内特气行业近四百位专家学者与产业同仁，围绕 “新形势下中国半导体产业发展”、“标准物质申报”、“电子气体应用与前沿创新”等核心议题展开了深度分享与讨论。辽宁科瑞色谱技术有限公司受邀参会，并在大会上大放异彩——我司发表的论文《气相色谱法分析电子级四氯化硅中痕量杂质》荣获“优秀论文三等奖”！

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